文献
J-GLOBAL ID:201702229105842451
整理番号:17A0547445
走査型プローブ顕微鏡技術により研究したZnO/NiO同時蒸着薄膜のナノスケール電気的特性
Nanoscale electrical properties of ZnO/NiO co-deposited thin film investigated by Scanning Probe Microscopy techniques
著者 (5件):
BOROWIAK A. S.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
NAKAGAWARA O.
(Murata Manufacturing Co., Ltd., Kyoto, JPN)
,
MINGYU L.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TAN G.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
,
TANAKA H.
(Osaka Univ., Osaka, JPN)
資料名:
応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)
(Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻:
64th
ページ:
ROMBUNNO.14a-414-4
発行年:
2017年03月01日
JST資料番号:
Y0054B
ISSN:
2436-7613
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
短報
発行国:
日本 (JPN)
言語:
英語 (EN)