文献
J-GLOBAL ID:201702229109002253
整理番号:17A0057280
新規診断テスト生成法とその応用生産故障分離【Powered by NICT】
A novel diagnostic test generation methodology and its application in production failure isolation
著者 (8件):
Amyeen M. Enamul
(Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124)
,
Kim Dongok
(Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124)
,
Chandrasekar Maheshwar
(Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054)
,
Noman Mohammad
(Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124)
,
Venkataraman Srikanth
(Intel Corporation, Hillsboro, OR 97124)
,
Jain Anurag
(Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054)
,
Goel Neha
(Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054)
,
Sharma Ramesh
(Intel Corporation, Santa Clara, CA 95054)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ITC
ページ:
1-10
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)