文献
J-GLOBAL ID:201702229418080138
整理番号:17A1501765
Raman分光法によるBaZr_xTi_1 xO_3エピタキシャル薄膜における極性秩序度の識別【Powered by NICT】
Discrimination of polar order extent in BaZrxTi1-xO3 epitaxial thin films by Raman spectroscopy
著者 (6件):
Ventura J.
(Departament de Fisica Aplicada, Universitat de Barcelona, Spain)
,
Hernandez S.
(Departament d’Enginyeria: Electronica, Universitat de Barcelona, Spain)
,
Polo M.C.
(Departament de Fisica Aplicada, Universitat de Barcelona, Spain)
,
Ferrater C.
(Departament de Fisica Aplicada, Universitat de Barcelona, Spain)
,
Fabrega L.
(Institut de Ciencia de Materials de Barcelona, CSIC, Campus de la UAB, Spain)
,
Varela M.
(Departament de Fisica Aplicada, Universitat de Barcelona, Spain)
資料名:
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻:
424
号:
P3
ページ:
374-377
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0707B
ISSN:
0169-4332
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)