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文献

J-GLOBAL ID：201702229599203280 整理番号：17A0972403

In-Process Atomic-Force Microscopy (AFM) Based Inspection

著者 (1件)：

MEKID Samir

(King Fahd Univ. Petroleum and Minerals, Dhahran, SAU)

資料名：

Sensors (Web) (Sensors (Web))

巻： 17 号： 6 ページ： WEB ONLY 発行年： 2017年06月
JST資料番号： U7015A ISSN： 1424-8220 CODEN： SENSC9 資料種別：逐次刊行物 (A)
発行国：スイス (CHE) 言語：英語 (EN)

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