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文献
J-GLOBAL ID：201702229693988782
整理番号：17A1164713
単一および二重ナノ粒子を負荷したブリスタによるシリコン基板上のグラフェン接着の測定【Powered by NICT】
Measuring Graphene Adhesion on Silicon Substrate by Single and Dual Nanoparticle-Loaded Blister
Gao Xiangyang
(School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Yu Xiyu
(School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Li Buxuan
(School of Aerospace Engineering, Tsinghua University, Beijing, 100084, China)
,
Fan Shangchun
(School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Li Cheng
(School of Instrumentation Science and Opto-Electronics Engineering, Beihang University, Beijing, 100191, China)
,
Li Cheng
(Department of Mechanical Engineering, University of California, Berkeley, CA, 94720, USA)
資料名：
Advanced Materials Interfaces
(Advanced Materials Interfaces)
巻： 4 号： 9 ページ： ROMBUNNO.201601023 発行年： 2017年
JST資料番号： W2484A ISSN： 2196-7350 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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