文献
J-GLOBAL ID:201702229793928880
整理番号:17A0468156
低温非弾性応力とランダム振動負荷を受けるはんだ材料:予測残存使用可能寿命
Solder material experiencing low temperature inelastic stress and random vibration loading: predicted remaining useful lifetime
著者 (4件):
SUHIR E.
(Portland State Univ., OR, USA)
,
SUHIR E.
(ERS Co., CA, USA)
,
GHAFFARIAN R.
(California Inst. of Technol., CA, USA)
,
YI S.
(Portland State Univ., OR, USA)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
28
号:
4
ページ:
3585-3597
発行年:
2017年02月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)