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文献
J-GLOBAL ID:201702229793928880   整理番号:17A0468156

低温非弾性応力とランダム振動負荷を受けるはんだ材料:予測残存使用可能寿命

Solder material experiencing low temperature inelastic stress and random vibration loading: predicted remaining useful lifetime
著者 (4件):
SUHIR E.
(Portland State Univ., OR, USA)
SUHIR E.
(ERS Co., CA, USA)
GHAFFARIAN R.
(California Inst. of Technol., CA, USA)
YI S.
(Portland State Univ., OR, USA)

資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics  (Journal of Materials Science. Materials in Electronics)

巻: 28  号:ページ: 3585-3597  発行年: 2017年02月 
JST資料番号: W0003A  ISSN: 0957-4522  CODEN: JMTSAS  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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