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文献
J-GLOBAL ID：201702229840065865
整理番号：17A0009413
1から10nmまでの軟X線スペクトル領域における高度荷電イオンプラズマ放射のためのフラットフィールドすれすれ入射分光計の評価
Evaluation of a flat-field grazing incidence spectrometer for highly charged ion plasma emission in soft x-ray spectral region from 1 to 10 nm
Dinh Thanh Hung
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Kondo Yoshiki
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Tamura Toshiki
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Ono Yuichi
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Hara Hiroyuki
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Oikawa Hiroki
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
,
Yamamoto Yoichi
(Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan)
,
Ishino Masahiko
(Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan)
,
Nishikino Masaharu
(Kansai Photon Science Institute, National Institutes for Quantum and Radiological Science and Technology (QST), 8-1-7 Umemidai, Kizugawa, Kyoto 619-0215, Japan)
,
Makimura Tetsuya
(Institute of Applied Physics, University of Tsukuba, Tsukuba, Ibaraki 305-8573, Japan)
,
Dunne Padraig
(School of Physics, University College Dublin, Belfield, Dublin 4, Ireland)
,
O’Sullivan Gerry
(School of Physics, University College Dublin, Belfield, Dublin 4, Ireland)
,
Ohta Shigeru
(Vacuum and Optical Instruments, 2-18-18 Shimomaruko, Ohta-ku, Tokyo 146-0092, Japan)
,
Kitano Ken
(Vacuum and Optical Instruments, 2-18-18 Shimomaruko, Ohta-ku, Tokyo 146-0092, Japan)
,
Ejima Takeo
(Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan)
,
Hatano Tadashi
(Institute of Multidisciplinary Research for Advanced Materials, Tohoku University, 2-1-1 Katahira, Aoba-ku, Sendai 980-8577, Japan)
,
Higashiguchi Takeshi
(Department of Electrical and Electronic Engineering, Faculty of Engineering and Center for Optical Research and Education (CORE), Utsunomiya University, 7-1-2 Yoto, Utsunomiya, Tochigi 321-8585, Japan)
資料名：
Review of Scientific Instruments
(Review of Scientific Instruments)
巻： 87 号： 12 ページ： 123106-123106-7 発行年： 2016年12月
JST資料番号： D0517A ISSN： 0034-6748 CODEN： RSINAK 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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