前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201702229951419933   整理番号:17A0825245

16nmバルクFinFET CMOSプロセスにおけるセンス増幅器ベースフリップフロップの設計のシングルイベント性能【Powered by NICT】

Single-Event Performance of Sense-Amplifier Based Flip-Flop Design in a 16-nm Bulk FinFET CMOS Process
著者 (7件):
Jiang H.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University, Nashville, TN, USA)
Zhang H.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University, Nashville, TN, USA)
Assis T. R.
(Robust Chip Inc., Pleasanton, CA, USA)
Narasimham B.
(Broadcom Corporation, Irvine, CA, USA)
Bhuva B. L.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University, Nashville, TN, USA)
Holman W. T.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University, Nashville, TN, USA)
Massengill L. W.
(Department of Electrical Engineering and Computer Science, Vanderbilt University, Nashville, TN, USA)

資料名:
IEEE Transactions on Nuclear Science  (IEEE Transactions on Nuclear Science)

巻: 64  号:ページ: 477-482  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0235A  ISSN: 0018-9499  CODEN: IETNAE  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。