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J-GLOBAL ID:201702230108517367   整理番号:17A0214165

垂直suspendedチャネルを持つラップゲート型CNT-FETの初めての実証【Powered by NICT】

First demonstration of a wrap-gated CNT-FET with vertically-suspended channels
著者 (15件):
Lee Dongil
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Lee Byung-Hyun
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Yoon Jinsu
(Kookmin University, Seoul, 02707, Korea)
Choi Bongsik
(Kookmin University, Seoul, 02707, Korea)
Park Jun-Young
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Ahn Dae-Chul
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Kim Choong-Ki
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Hwang Byeong-Woon
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Jeon Seung-Bae
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Ahn Hyun Jun
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Seol Myeong-Lok
(NASA Ames Research Center, Moffett Field, CA 94035, USA)
Kang Min-Ho
(National Nanofab Center, Daejeon 34141, Korea)
Cho Byung Jin
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)
Choi Sung-Jin
(Kookmin University, Seoul, 02707, Korea)
Choi Yang-Kyu
(School of Electrical Engineering, KAIST, Daejeon 34141, Korea)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2016  号: IEDM  ページ: 5.2.1-5.2.4  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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