文献
J-GLOBAL ID:201702230167006496
整理番号:17A1774621
最小損失のためのSiCデバイス選択を最適化するための簡単な方法【Powered by NICT】
A simple technique to optimize SiC device selection for minimum loss
著者 (3件):
Roscoe Nina
(University of Strathclyde, The Technology and Innovation Centre, 99 George St Glasgow, United Kingdom)
,
McNeill Neville
(University of Strathclyde, The Technology and Innovation Centre, 99 George St Glasgow, United Kingdom)
,
Finney Stephen
(University of Strathclyde, The Technology and Innovation Centre, 99 George St Glasgow, United Kingdom)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
EPE’17 ECCE Europe
ページ:
P.1-P.13
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)