文献
J-GLOBAL ID:201702230219426335
整理番号:17A0415793
分布帰還形ファイバレーザ及びビート周波数技術を用いた高分解能静的歪測定【Powered by NICT】
High resolution static strain measurement using distributed feedback fiber laser and beat frequency technique
著者 (4件):
Shengwen Feng
(Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China)
,
Zhang Wentao
(Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China)
,
Huang Wenzhu
(Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China)
,
Li Fang
(Optoelectronic System Laboratory, Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences, Beijing, 100083, China)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
ICOCN
ページ:
1-3
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)