文献
J-GLOBAL ID:201702230254226057
整理番号:17A1722353
スクリーニング限界欠陥のための埋込計装ツールボックスと生産のための異常値【Powered by NICT】
Embedded instrumentation toolbox for screening marginal defects and outliers for production
著者 (4件):
Odintsov Sergei
(Department of Computer Systems, Tallinn University of Technology, Tallinn, Estonia)
,
Jutman Artur
(Testonica Lab, Tallinn, Estonia)
,
Devadze Sergei
(Testonica Lab, Tallinn, Estonia)
,
Aleksejev Igor
(Department of Computer Systems, Tallinn University of Technology, Tallinn, Estonia)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
AUTOTESTCON
ページ:
1-9
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)