文献
J-GLOBAL ID:201702230363251377
整理番号:17A1835727
シリコンフォトニクス(招待論文)のための量子井戸と量子ドットレーザの信頼性【Powered by NICT】
Reliability of quantum well and quantum dot lasers for silicon photonics (invited)
著者 (6件):
Herrick Robert W.
(Intel Corporation, Santa Clara, CA, USA)
,
Jung Daehwan
(University of California, Santa Barbara, CA, USA)
,
Liu Alan
(University of California, Santa Barbara, CA, USA)
,
Norman Justin
(University of California, Santa Barbara, CA, USA)
,
Jan Catherine
(Intel Corporation, Santa Clara, CA, USA)
,
Bowers John
(University of California, Santa Barbara, CA, USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IPC
ページ:
11
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)