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文献
J-GLOBAL ID:201702230403536368   整理番号:17A0758092

その場チャネル温度推定によるパワーMOSFETのための熱等価回路の同定【Powered by NICT】

Identifications of thermal equivalent circuit for power MOSFETs through in-situ channel temperature estimation
著者 (4件):
Oishi Kazuki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
Shintani Michihiro
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
Hiromoto Masayuki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
Sato Takashi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2016  号: WiPDA  ページ: 308-313  発行年: 2016年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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