文献
J-GLOBAL ID:201702230403536368
整理番号:17A0758092
その場チャネル温度推定によるパワーMOSFETのための熱等価回路の同定【Powered by NICT】
Identifications of thermal equivalent circuit for power MOSFETs through in-situ channel temperature estimation
著者 (4件):
Oishi Kazuki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
,
Shintani Michihiro
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
,
Hiromoto Masayuki
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
,
Sato Takashi
(Graduate School of Informatics, Kyoto University, Yoshida-hon-machi, Sakyo, Kyoto 606-8501, Japan)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2016
号:
WiPDA
ページ:
308-313
発行年:
2016年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)