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文献
J-GLOBAL ID：201702230447487651
整理番号：17A1637468
DALSシステムに基づく温度感受性不全におけるSDL解析【Powered by NICT】
SDL analysis in temperature sensitive failure based on DALS system
He Chi
(NXP Semiconductor (China) Limited, Tianjin, China)
,
Fan Diwei
(NXP Semiconductor (China) Limited, Tianjin, China)
,
Song Grace
(NXP Semiconductor (China) Limited, Tianjin, China)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IPFA ページ： 1-4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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