文献
J-GLOBAL ID:201702230543133565
整理番号:17A0886121
ランダムに失われた測定値のあるFIRモデルのための変分Bayes推論【Powered by NICT】
Variational Bayesian Inference for FIR Models With Randomly Missing Measurements
著者 (2件):
Yang Xianqiang
(Research Institute of Intelligent Control and Systems, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
,
Yin Shen
(Research Institute of Intelligent Control and Systems, Harbin Institute of Technology, Harbin, China)
資料名:
IEEE Transactions on Industrial Electronics
(IEEE Transactions on Industrial Electronics)
巻:
64
号:
5
ページ:
4217-4225
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0234A
ISSN:
0278-0046
CODEN:
ITIED6
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)