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文献
J-GLOBAL ID：201702230807352168
整理番号：17A1836496
Microsemi Igloo2FPGAの陽子及び重イオン試験【Powered by NICT】
Proton and heavy ion testing of the Microsemi Igloo2 FPGA
Davis S. C.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA 90245)
,
Koga R.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA 90245)
,
George J. S.
(The Aerospace Corporation, El Segundo, CA 90245)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： NSREC ページ： 1-6 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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