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文献
J-GLOBAL ID：201702231022501722
整理番号：17A0443345
ディジタル信号特性を利用した相互接続劣化の診断のためのディジタル技術【Powered by NICT】
A digital technique for diagnosing interconnect degradation by using digital signal characteristics
Lee Jinwoo
(System Design and Control Engineering, UNIST, Ulsan 44919, Republic of Korea)
,
Kwon Daeil
(System Design and Control Engineering, UNIST, Ulsan 44919, Republic of Korea)
資料名：
Microelectronics Journal
(Microelectronics Journal)
巻： 60 ページ： 87-93 発行年： 2017年
JST資料番号： A0186A ISSN： 0026-2692 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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