文献
J-GLOBAL ID:201702231132497057
整理番号:17A0362530
高光度青色LEDの加速寿命試験【Powered by NICT】
Accelerated Life Test of high luminosity blue LEDs
著者 (5件):
Nogueira E.
(Instituto de Energia Solar-Departamento Electronica Fisica -E.T.S.I.S.T. -Universidad Politecnica, Madrid, Spain)
,
Orlando V.
(Instituto de Energia Solar-Departamento Electronica Fisica -E.T.S.I.S.T. -Universidad Politecnica, Madrid, Spain)
,
Ochoa J.
(Instituto de Energia Solar-Departamento Electronica Fisica -E.T.S.I.S.T. -Universidad Politecnica, Madrid, Spain)
,
Fernandez A.
(Instituto de Energia Solar-Departamento Electronica Fisica -E.T.S.I.S.T. -Universidad Politecnica, Madrid, Spain)
,
Vazquez M.
(Instituto de Energia Solar-Departamento Electronica Fisica -E.T.S.I.S.T. -Universidad Politecnica, Madrid, Spain)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
64
ページ:
631-634
発行年:
2016年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)