文献
J-GLOBAL ID:201702231362820191
整理番号:17A0388209
高けい素マトリックス中のICP-OESによるけい素中の微量元素の精密定量のための新しい方法の開発と検証【Powered by NICT】
Development and validation of a new method for the precise and accurate determination of trace elements in silicon by ICP-OES in high silicon matrices
著者 (2件):
Rietig A.
(Brandenburg University of Technology Cottbus-Senftenberg Department of Chemistry, Universitaetsplatz 1, 01968 Senftenberg, Germany. joerg.acker@b-tu.de)
,
Acker J.
資料名:
Journal of Analytical Atomic Spectrometry
(Journal of Analytical Atomic Spectrometry)
巻:
32
号:
2
ページ:
322-333
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0770C
ISSN:
0267-9477
CODEN:
JASPE2
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)