文献
J-GLOBAL ID:201702231629796963
整理番号:17A0138031
曲がったCu-Al-Niナノピラーにおける形状記憶効果の破壊 双晶境界が積層欠陥になるとき
Breakdown of Shape Memory Effect in Bent Cu-Al-Ni Nanopillars: When Twin Boundaries Become Stacking Faults
著者 (7件):
LIU Lifeng
(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
,
LIU Lifeng
(Inst. of Mechanics, Chinese Acad. of Sci., Beijing, CHN)
,
DING Xiangdong
(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
,
SUN Jun
(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
,
LI Suzhi
(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
,
SALJE Ekhard K. H.
(Xi’an Jiaotong Univ., Xi’an, CHN)
,
SALJE Ekhard K. H.
(Univ. Cambridge, Cambridge, GBR)
資料名:
Nano Letters
(Nano Letters)
巻:
16
号:
1
ページ:
194-198
発行年:
2016年01月
JST資料番号:
W1332A
ISSN:
1530-6984
CODEN:
NALEFD
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
短報
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)