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文献
J-GLOBAL ID：201702231799061542
整理番号：17A1036200
SiC MOSFETの信頼性と品質試験【Powered by NICT】
SiC MOSFET reliability and implications for qualification testing
Lelis Aivars J.
(Power Conditioning Branch, U.S. Army Research Laboratory, Adelphi, MD, USA)
,
Green Ronald
(Power Conditioning Branch, U.S. Army Research Laboratory, Adelphi, MD, USA)
,
Habersat Daniel B.
(Power Conditioning Branch, U.S. Army Research Laboratory, Adelphi, MD, USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IRPS ページ： 2A-4.1-2A-4.4 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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