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文献
J-GLOBAL ID：201702231871354642
整理番号：17A1246145
機械的に剥離した黒リンとSiO_x間の界面熱コンダクタンス:厚さと温度の影響【Powered by NICT】
Interfacial Thermal Conductance between Mechanically Exfoliated Black Phosphorus and SiOx: Effect of Thickness and Temperature
Wang Tianyu
(Department of Mechanical Engineering, Iowa State University, 2025 Black Engineering Building, Ames, IA, 50010, USA)
,
Wang Ridong
(Department of Mechanical Engineering, Iowa State University, 2025 Black Engineering Building, Ames, IA, 50010, USA)
,
Yuan Pengyu
(Department of Mechanical Engineering, Iowa State University, 2025 Black Engineering Building, Ames, IA, 50010, USA)
,
Xu Shen
(Automotive Engineering College, Shanghai University of Engineering Science, 333 Longteng Road, Shanghai, 201620, P. R. China)
,
Liu Jing
(Department of Mechanical Engineering, Iowa State University, 2025 Black Engineering Building, Ames, IA, 50010, USA)
,
Wang Xinwei
(Department of Mechanical Engineering, Iowa State University, 2025 Black Engineering Building, Ames, IA, 50010, USA)
資料名：
Advanced Materials Interfaces
(Advanced Materials Interfaces)
巻： 4 号： 16 ページ： null 発行年： 2017年
JST資料番号： W2484A ISSN： 2196-7350 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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