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文献
J-GLOBAL ID：201702232029900288
整理番号：17A1836519
シングルイベント過渡現象(SET)の概要と一般的に使用される電圧コンパレータの総電離線量(TID)試験結果【Powered by NICT】
Compendium of single event transient (SET) and total ionizing dose (TID) test results for commonly used voltage comparators
Bozovich Amanda N.
(NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA)
,
Irom Farokh
(NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： NSREC ページ： 1-21 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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