文献
J-GLOBAL ID:201702232029900288
整理番号:17A1836519
シングルイベント過渡現象(SET)の概要と一般的に使用される電圧コンパレータの総電離線量(TID)試験結果【Powered by NICT】
Compendium of single event transient (SET) and total ionizing dose (TID) test results for commonly used voltage comparators
著者 (2件):
Bozovich Amanda N.
(NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA)
,
Irom Farokh
(NASA Jet Propulsion Laboratory, California Institute of Technology, Pasadena, CA 91109 USA)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
NSREC
ページ:
1-21
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)