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文献
J-GLOBAL ID：201702232250382643
整理番号：17A1959426
半導体欠陥検出に適用した自己適応クラス不均衡TSKニューラルネットワーク【Powered by NICT】
A self-adaptive class-imbalance TSK neural network with applications to semiconductor defects detection
Tan Shing Chiang
(Faculty of Information Science and Technology, Multimedia University, Melaka Campus, Jalan Ayer Keroh Lama, 75450 Bukit Beruang, Melaka, Malaysia)
,
Wang Shuming
(School of Economics and Management, University of Chinese Academy of Sciences, No. 80, Zhongguancun East Road, Beijing, 100190, China)
,
Watada Junzo
(Department of Computer and Information Sciences, Universiti Teknologi PETRONAS, 32610 Seri Iskandar, Perak Darul Ridzuan, Malaysia)
資料名：
Information Sciences
(Information Sciences)
巻： 427 ページ： 1-17 発行年： 2018年
JST資料番号： D0636A ISSN： 0020-0255 CODEN： ISIJBC 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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