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文献
J-GLOBAL ID:201702232316666588   整理番号:17A1258640

半導体デバイスの高速,フレキシブルで容易な歪予測のためのばね格子モデル【Powered by NICT】

Spring-lattice model for fast, flexible and easy strain prediction in semiconductor devices
著者 (2件):
Baumann Frieder H.
(GLOBALFOUNDRIES, 400 Stone Break Road Extension, Malta, NY 12020, United States of America)
Guinel Maxime J-F
(GLOBALFOUNDRIES, 400 Stone Break Road Extension, Malta, NY 12020, United States of America)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: MIPRO  ページ: 198-200  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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