文献
J-GLOBAL ID:201702232398513553
整理番号:17A1181873
Ag(001)上の超薄V_2O_3(0001)膜の構造,電子構造,及び金属-絶縁体転移の厚さに依存する発展【Powered by NICT】
Thickness-dependent evolution of structure, electronic structure, and metal-insulator transition in ultrathin V2O3(0001) films on Ag(001)
著者 (2件):
Kundu Asish K.
(Surface Physics and Material Science Division, Saha Institute of Nuclear Physics, 1/AF Bidhannagar, Kolkata 700064, India)
,
Menon Krishnakumar S.R.
(Surface Physics and Material Science Division, Saha Institute of Nuclear Physics, 1/AF Bidhannagar, Kolkata 700064, India)
資料名:
Surface Science
(Surface Science)
巻:
659
ページ:
43-51
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0129B
ISSN:
0039-6028
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
オランダ (NLD)
言語:
英語 (EN)