前のページに戻る この文献は全文を取り寄せることができます
JDreamⅢ複写サービスから文献全文の複写(冊子体のコピー)をお申込みできます。
ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です。
既に、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDをお持ちの方
JDreamⅢ複写サービスのご利用が初めての方
取り寄せる文献のタイトルと詳細
文献
J-GLOBAL ID:201702232490067843   整理番号:17A1025870

非平坦ミラープラトー領域を持つSiC MOSFETのスイッチング損失【Powered by NICT】

Estimating switching losses for SiC MOSFETs with non-flat miller plateau region
著者 (4件):
Agrawal Bharat
(Department of Electrical and Computer Engineering, McMaster University, Canada)
Freindl Matthias
(Department of Electrical Engineering, Columbia University, New York, USA)
Bilgin Berker
(Department of Electrical and Computer Engineering, McMaster University, Canada)
Emadi Ali
(Department of Mechanical Engineering, McMaster University, Canada)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: APEC 2017  ページ: 2664-2670  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
JDreamⅢ複写サービスとは
JDreamⅢ複写サービスは、学術文献の全文を複写(コピー)して取り寄せできる有料サービスです。インターネットに公開されていない文献や、図書館に収録されていない文献の全文を、オンラインで取り寄せることができます。J-GLOBALの整理番号にも対応しているので、申し込みも簡単にできます。全文の複写(コピー)は郵送またはFAXでお送りします

※ご利用には、G-Searchデータベースサービスまたは、JDreamⅢのIDが必要です
※初めてご利用される方は、JDreamⅢ複写サービスのご案内をご覧ください。