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文献
J-GLOBAL ID:201702232546483215   整理番号:17A0470083

新しい電池劣化モデルを用いたLi(NiMnCo)O_2~をベースにしたリチウムイオン電池の予知【Powered by NICT】

Prognostics of Li(NiMnCo)O2-based lithium-ion batteries using a novel battery degradation model
著者 (4件):
Yang Fangfang
(Department of Systems Engineering and Engineering Management, City University of Hong Kong, Tat Chee Avenue, Kowloon, Hong Kong, China)
Wang Dong
(Department of Systems Engineering and Engineering Management, City University of Hong Kong, Tat Chee Avenue, Kowloon, Hong Kong, China)
Xing Yinjiao
(Center for Advanced Life Cycle Engineering, University of Maryland, College Park, MD 20742, USA)
Tsui Kwok-Leung
(Department of Systems Engineering and Engineering Management, City University of Hong Kong, Tat Chee Avenue, Kowloon, Hong Kong, China)

資料名:
Microelectronics Reliability  (Microelectronics Reliability)

巻: 70  ページ: 70-78  発行年: 2017年 
JST資料番号: C0530A  ISSN: 0026-2714  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: イギリス (GBR)  言語: 英語 (EN)
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