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J-GLOBAL ID:201702233528083109   整理番号:17A0158517

マグネトロンスパッタリングにより堆積したW-TI薄膜の構造と特性を調べた。【JST・京大機械翻訳】

Structure and properties of W-Ti thin films deposited by magnetron sputtering
著者 (4件):
Sun Guoqi
(School of Materials Science and Engineering,Kunming University of Science and Technology)
Sun Yong
(School of Materials Science and Engineering,Kunming University of Science and Technology)
Guo Zhongzheng
(School of Materials Science and Engineering,Kunming University of Science and Technology)
Duan Yonghua
(School of Materials Science and Engineering,Kunming University of Science and Technology)

資料名:
Jinshu Rechuli  (Jinshu Rechuli)

巻: 41  号: 10  ページ: 90-94  発行年: 2016年 
JST資料番号: C2061A  ISSN: 0254-6051  CODEN: JRECDB  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 中国 (CHN)  言語: 中国語 (ZH)
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