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文献
J-GLOBAL ID：201702233572644250
整理番号：17A0825292
ソフトエラーの下でのSRAMベースFPGAにおけるHLSベース設計の信頼性と性能のトレードオフの解析【Powered by NICT】
Analyzing Reliability and Performance Trade-Offs of HLS-Based Designs in SRAM-Based FPGAs Under Soft Errors
Tambara Lucas Antunes
(PGMICRO, UFRGS, Instituto de Informa ́tica, Porto Alegre, Brazil)
,
Tonfat Jorge
(PGMICRO, UFRGS, Instituto de Informa ́tica, Porto Alegre, Brazil)
,
Santos Andre
(PGMICRO, UFRGS, Instituto de Informa ́tica, Porto Alegre, Brazil)
,
Lima Kastensmidt Fernanda
(PGMICRO, UFRGS, Instituto de Informa ́tica, Porto Alegre, Brazil)
,
Medina Nilberto H.
(Universidade de Sao Paulo, Sao Paulo, Brazil)
,
Added Nemitala
(Universidade de Sao Paulo, Sao Paulo, Brazil)
,
Aguiar Vitor A. P.
(Universidade de Sao Paulo, Sao Paulo, Brazil)
,
Aguirre Fernando
(Universidade de Sao Paulo, Sao Paulo, Brazil)
,
Silveira Marcilei A. G.
(Centro Universita ́rio da FEI, Sao Bernardo do Campo, Brazil)
資料名：
IEEE Transactions on Nuclear Science
(IEEE Transactions on Nuclear Science)
巻： 64 号： 2 ページ： 874-881 発行年： 2017年
JST資料番号： C0235A ISSN： 0018-9499 CODEN： IETNAE 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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