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文献
J-GLOBAL ID：201702233742162378
整理番号：17A0747978
絶縁基板上の金属ナノ構造のための走査電子顕微鏡における帯電効果の系統的研究【Powered by NICT】
A systematic investigation of the charging effect in scanning electron microscopy for metal nanostructures on insulating substrates
FLATABO R.
(Department of Physics and Technology, University of Bergen, Bergen, Norway)
,
COSTE A.
(Ecole normale superieure de Lyon, Lyon, France)
,
GREVE M.M.
(Department of Physics and Technology, University of Bergen, Bergen, Norway)
資料名：
Journal of Microscopy
(Journal of Microscopy)
巻： 265 号： 3 ページ： 287-297 発行年： 2017年
JST資料番号： B0454B ISSN： 0022-2720 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： イギリス (GBR) 言語： 英語 (EN)
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