文献
J-GLOBAL ID:201702233815908531
整理番号:17A0764682
陽電子消滅分光法によりプローブしたZnOバルクで固有点欠陥の発展【Powered by NICT】
Evolution of native point defects in ZnO bulk probed by positron annihilation spectroscopy
著者 (6件):
Peng Cheng-Xiao
(Physics and Electronics School,Henan University)
,
Wang Ke-Fan
(Physics and Electronics School,Henan University)
,
Zhang Yang
(Physics and Electronics School,Henan University)
,
Guo Feng-Li
(Physics and Electronics School,Henan University)
,
Weng Hui-Min
(Modern Physics Department,University of Science and Technology of China)
,
Ye Bang-Jiao
(Modern Physics Department,University of Science and Technology of China)
資料名:
Chinese Physics B
(Chinese Physics B)
巻:
18
号:
5
ページ:
2072-2077
発行年:
2009年05月
JST資料番号:
W1539A
ISSN:
1674-1056
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
中国 (CHN)
言語:
英語 (EN)