文献
J-GLOBAL ID:201702233981483436
整理番号:17A1557494
圧電薄膜の圧電応答力顕微鏡電気機械応答に及ぼす基板の影響【Powered by NICT】
Substrate effects on piezoresponse force microscopy electromechanical responses of piezoelectric thin films
著者 (1件):
Wang J.H.
(School of Mechanics, Civil Engineering and Architecture, Northwestern Polytechnical University, Xi’an, Shaanxi, 710129, PR China)
資料名:
International Journal of Solids and Structures
(International Journal of Solids and Structures)
巻:
128
ページ:
149-159
発行年:
2017年
JST資料番号:
B0700A
ISSN:
0020-7683
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)