文献
J-GLOBAL ID:201702233997292149
整理番号:17A1254667
MEMSデバイスのための位相同期テストソリューション【Powered by NICT】
A phase locking test solution for MEMS devices
著者 (2件):
Supon Tareq Muhammad
(Research Center for Integrated Microsystem, University of Windsor, ON, Canada)
,
Rashidzadeh Rashid
(Research Center for Integrated Microsystem, University of Windsor, ON, Canada)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ETS
ページ:
1-6
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)