文献
J-GLOBAL ID:201702234035736069
整理番号:17A1254639
半導体品質分析における非正規データ用集積回路の特性化【Powered by NICT】
Integrated circuits’ characterization for non-normal data in semiconductor quality analysis
著者 (4件):
Kovacs Ingrid
(Bases of Electronics Department, Technical University of Cluj-Napoca, Romania)
,
Topa Marina
(Bases of Electronics Department, Technical University of Cluj-Napoca, Romania)
,
Buzo Andi
(Infineon Technologies, Neubiberg, Germany)
,
Pelz Georg
(Infineon Technologies, Neubiberg, Germany)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ETS
ページ:
1-2
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)