文献
J-GLOBAL ID:201702234440204241
整理番号:17A1544912
非常に異常なトランジスタ故障,ソレノイド【Powered by NICT】
A very unusual transistor failure, caused by a solenoid
著者 (2件):
Jacob P.
(Empa, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-8600 Duebendorf, Switzerland)
,
Furrer R.
(Empa, Swiss Federal Laboratories for Materials Testing and Research, CH-8600 Duebendorf, Switzerland)
資料名:
Microelectronics Reliability
(Microelectronics Reliability)
巻:
76-77
ページ:
102-105
発行年:
2017年
JST資料番号:
C0530A
ISSN:
0026-2714
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
イギリス (GBR)
言語:
英語 (EN)