文献
J-GLOBAL ID:201702234560588299
整理番号:17A1018019
PLZT薄膜の物理特性とリエントラント挙動
Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin films
著者 (8件):
MELO M.
(Sao Paulo State Univ., SP, BRA)
,
ARAUJO E.B.
(Sao Paulo State Univ., SP, BRA)
,
NERADOVSKAYA E.A.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
,
TURYGIN A.P.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
,
ESIN A.A.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
,
SHUR V.Ya.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
,
KHOLKIN A.L.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
,
KHOLKIN A.L.
(Univ. Aveiro, Aveiro, PRT)
資料名:
Ferroelectrics
(Ferroelectrics)
巻:
509
ページ:
167-175
発行年:
2017年05月
JST資料番号:
D0777A
ISSN:
0015-0193
CODEN:
FEROA8
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)