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文献
J-GLOBAL ID:201702234560588299   整理番号:17A1018019

PLZT薄膜の物理特性とリエントラント挙動

Physical properties and reentrant behavior in PLZT thin films
著者 (8件):
MELO M.
(Sao Paulo State Univ., SP, BRA)
ARAUJO E.B.
(Sao Paulo State Univ., SP, BRA)
NERADOVSKAYA E.A.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
TURYGIN A.P.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
ESIN A.A.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
SHUR V.Ya.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
KHOLKIN A.L.
(Ural Federal Univ., Ekaterinburg, RUS)
KHOLKIN A.L.
(Univ. Aveiro, Aveiro, PRT)

資料名:
Ferroelectrics  (Ferroelectrics)

巻: 509  ページ: 167-175  発行年: 2017年05月 
JST資料番号: D0777A  ISSN: 0015-0193  CODEN: FEROA8  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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