文献
J-GLOBAL ID:201702234712374918
整理番号:17A1038124
自動車半導体試験【Powered by NICT】
Automotive semiconductor test
著者 (2件):
Pateras Steve
(Mentor Graphics, United States of America)
,
Tai Ting-Pu
(Mentor Graphics, United States of America)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
VLSI-DAT
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)