文献
J-GLOBAL ID:201702235643026915
整理番号:17A1637422
新しく開発されたEBAC法による短故障位置特定法に関する研究【Powered by NICT】
Study on short failure localization approach by newly developed EBAC technique
著者 (5件):
Fuse Junichi
(Science Systems Design Division, Hitachi High-Technologies Corporation, 1040, Ichige, Hitachinaka-shi, Ibaraki 312-0033, Japan})
,
Sunaoshi Takeshi
(Science Systems Design Division, Hitachi High-Technologies Corporation, 1040, Ichige, Hitachinaka-shi, Ibaraki 312-0033, Japan})
,
Nara Yasuhiko
(Science Systems Design Division, Hitachi High-Technologies Corporation, 1040, Ichige, Hitachinaka-shi, Ibaraki 312-0033, Japan})
,
Kageyama Akira
(Science Systems Design Division, Hitachi High-Technologies Corporation, 1040, Ichige, Hitachinaka-shi, Ibaraki 312-0033, Japan})
,
Mizuno Takayuki
(Science Systems Sales & Marketing Division, Hitachi High-Technologies Corporation, 1-24-14, Nishi-Shimbashi 1-chome, Minato-ku, Tokyo 105-8717, Japan})
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IPFA
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)