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文献
J-GLOBAL ID：201702235688564205
整理番号：17A0067701
短波長X線回折法によりナノの内部残留応力を測定した。【JST・京大機械翻訳】
Interior Residual Stress of Bulk Nanocrystalline Aluminum Measured by Short-Wavelength X-ray Diffraction Method
Dou Shitao
(Southwest Institute of Technology and Engineering)
,
Zheng Lin
(Southwest Institute of Technology and Engineering)
,
Zhang Zhaohui
(School of Materials,Beijing Institute of Technology)
,
Zhang Jin
(Institute for Advanced Material and Technology,University of Science and Technology Beijing)
,
Ji Pengfei
(Institute for Advanced Material and Technology,University of Science and Technology Beijing)
,
He Changguang
(Southwest Institute of Technology and Engineering)
,
Peng Zhengkun
(Southwest Institute of Technology and Engineering)
,
Xiao Yong
(Southwest Institute of Technology and Engineering)
資料名：
Jixie Gongcheng Cailiao
(Jixie Gongcheng Cailiao)
巻： 40 号： 9 ページ： 97-100 発行年： 2016年
JST資料番号： C2051A ISSN： 1000-3738 CODEN： JGCAEL 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： 中国 (CHN) 言語： 中国語 (ZH)
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