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文献
J-GLOBAL ID：201702235956387050
整理番号：17A1636945
LO漏れを用いた簡単な2 トン発生法を特徴とする高速THz誘電率測定システム【Powered by NICT】
A high-speed THz permittivity measurement system featuring a simple 2-tone generation method using LO leakage
Jyo Teruo
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Hamada Hiroshi
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Kitayama Daisuke
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Yaita Makoto
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Moutaouakil Amine El
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Matsuzaki Hideaki
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
,
Nosaka Hideyuki
(NTT Device Technology Labs, NTT Corporation, Atsugi-shi, 2430198, Japan)
資料名：
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻： 2017 号： IMS ページ： 1527-1530 発行年： 2017年
JST資料番号： W2441A 資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 原著論文 発行国： アメリカ合衆国 (USA) 言語： 英語 (EN)
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