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文献
J-GLOBAL ID：201702236026601540
整理番号：17A0471203
空気中の走査型Kelvinプローブ顕微鏡を用いた銀ナノ平板におけるファセット方位の検出【Powered by NICT】
Sensing the facet orientation in silver nano-plates using scanning Kelvin probe microscopy in air
Abdellatif M.H.
(Department of Nanostructures, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
,
Abdellatif M.H.
(Physics Department, National Research Center, Elbehoos st., 12622, Dokki, Giza, Egypt)
,
Salerno M.
(Department of Nanophysics, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
,
Polovitsyn Anatolii
(Department of Nanochemistry, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
,
Polovitsyn Anatolii
(Dipartimentodi Fisica, Universita di Genova, via Dodecaneso 33, I-16146 Genova, Italy)
,
Marras Sergio
(Department of Nanochemistry, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
,
De Angelis Francesco
(Department of Nanostructures, Istituto Italiano di Tecnologia, via Morego 30, I-16163 Genova, Italy)
資料名：
Applied Surface Science
(Applied Surface Science)
巻： 403 ページ： 371-377 発行年： 2017年
JST資料番号： B0707B ISSN： 0169-4332 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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