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文献
J-GLOBAL ID：201702236537476175
整理番号：17A0959558
原子間力顕微鏡による単原子の電気陰性度の決定
Electronegativity Determination of Single Atoms by Atomic Force Microscopy
小野田穣
(東京大学大学院新領域創成科学研究科)
,
小野田穣
(大阪大学大学院工学研究科)
,
ONDRACEK Martin
(Institute of Physics, Czech Academy of Sciences)
,
JELINEK Pavel
(Institute of Physics, Czech Academy of Sciences)
,
JELINEK Pavel
(Regional Centre of Advanced Technologies and Materials, Department of Physical Chemistry, Palacky University)
,
杉本宜昭
(東京大学大学院新領域創成科学研究科)
,
杉本宜昭
(大阪大学大学院工学研究科)
資料名：
表面科学
(JSSSJ)
巻： 38 号： 7 ページ： 341-346(J-STAGE) 発行年： 2017年
JST資料番号： F0940B ISSN： 0388-5321 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説 発行国： 日本 (JPN) 言語： 日本語 (JA)
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