文献
J-GLOBAL ID:201702236655583531
整理番号:17A1076792
SILAR-CdS膜における硫黄欠乏欠陥優勢の解析
Analysis of sulphur deficiency defect prevalent in SILAR-CdS films
著者 (3件):
BANU N. Nisha
(AVVM Sri Pushpam Coll. (Autonomous), Tamil Nadu, IND)
,
BANU N. Nisha
(Kunthavai Naachiyaar Government Arts Coll. for Women (Autonomous), Tamil Nadu, IND)
,
RAVICHANDRAN K.
(AVVM Sri Pushpam Coll. (Autonomous), Tamil Nadu, IND)
資料名:
Journal of Materials Science. Materials in Electronics
(Journal of Materials Science. Materials in Electronics)
巻:
28
号:
16
ページ:
11584-11590
発行年:
2017年08月
JST資料番号:
W0003A
ISSN:
0957-4522
CODEN:
JMTSAS
資料種別:
逐次刊行物 (A)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)