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J-GLOBAL ID：201702236675056555 整理番号：17A1149351

断熱型磁束量子パラメトロンを用いた9万接合回路の歩留まり評価

Yield Evaluation of 90k Junction-scale Adiabatic Quantum-Flux-Parametron Circuits

著者 (4件)：

知名史博

(横浜国大)

竹内尚輝

(横浜国大)

山梨裕希

(横浜国大)

吉川信行

(横浜国大)

資料名：

電子情報通信学会技術研究報告 (IEICE Technical Report (Institute of Electronics, Information and Communication Engineers))

巻： 117 号： 171(SCE2017 11-20) ページ： 13-18 発行年： 2017年08月02日
JST資料番号： S0532B ISSN： 0913-5685 資料種別：会議録 (C)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：日本語 (JA)

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