文献
J-GLOBAL ID:201702236869589390
整理番号:17A1036116
3Dデバイスにおけるゲートスタック統合と実証における3D NAND可能の深さ分析【Powered by NICT】
In Depth Analysis of 3D NAND Enablers in Gate Stack Integration and Demonstration in 3D Devices
著者 (25件):
Tan Chi Lim
,
Lavizzari Simone
,
Blomme Pieter
,
Breuil Laurent
,
Vecchio Guglielma
,
Sebaai Farid
,
Paraschiv Vasile
,
Tao Zheng
,
Schepers Bart
,
Nyns Laura
,
Peter Antony
,
Dekkers Harold
,
Ong Patrick
,
Tsvetanova Diana
,
Devriendt Katia
,
Teugels Lieve
,
Heylen Nancy
,
Raymaekers Tom
,
Jossart Nico
,
Mennella Pasquale
,
Delhougne Romain
,
Vadakupudhu Palayam Senthil
,
Arreghini Antonio
,
Van den bosch Geert
,
Furnemont Arnaud
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
IMW
ページ:
1-4
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)