文献
J-GLOBAL ID:201702237209998874
整理番号:17A1646354
パワーエレクトロニクス応用のための部分放電(PD)試験による絶縁設計と評価【Powered by NICT】
Insulation design and evaluation via partial discharge (PD) test for power electronics application
著者 (3件):
Xu Yue
(Center for Power Electronics Systems (CPES), Virginia Polytechnic Institute & State University, Blacksburg, VA, US)
,
Burgos Rolando
(Center for Power Electronics Systems (CPES), Virginia Polytechnic Institute & State University, Blacksburg, VA, US)
,
Boroyevich Dushan
(Center for Power Electronics Systems (CPES), Virginia Polytechnic Institute & State University, Blacksburg, VA, US)
資料名:
IEEE Conference Proceedings
(IEEE Conference Proceedings)
巻:
2017
号:
ESTS
ページ:
394-400
発行年:
2017年
JST資料番号:
W2441A
資料種別:
会議録 (C)
記事区分:
原著論文
発行国:
アメリカ合衆国 (USA)
言語:
英語 (EN)