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文献
J-GLOBAL ID：201702237230188100
整理番号：17A1185994
電子後方散乱回折(EBSD)の重要な情報の深さに関する実験的証拠【Powered by NICT】
Experimental evidence concerning the significant information depth of electron backscatter diffraction (EBSD)
Wisniewski Wolfgang
(Otto-Schott-Institut, Jena University, Fraunhoferstr. 6, 07743 Jena, Germany)
,
Saager Stefan
(Fraunhofer Institute for Organic Electronics, Electron Beam and Plasma Technology FEP, Winterbergstrasse 28, 01277 Dresden, Germany)
,
Bobenroth Andrea
(Fraunhofer Institute for the Microstructure of Materials and Systems IMWS, Walter-Huelse-Strasse 1, 06120 Halle (Saale), Germany)
,
Ruessel Christian
(Otto-Schott-Institut, Jena University, Fraunhoferstr. 6, 07743 Jena, Germany)
資料名：
Ultramicroscopy
(Ultramicroscopy)
巻： 173 ページ： 1-9 発行年： 2017年
JST資料番号： W0972A ISSN： 0304-3991 CODEN： ULTRD 資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文 発行国： オランダ (NLD) 言語： 英語 (EN)
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