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文献
J-GLOBAL ID:201702237301720578   整理番号:17A1729792

ランダム高速電圧ディザリングを用いた128ビットAESエンジンの改善された電力サイドチャネル攻撃耐性【Powered by NICT】

Improved power side channel attack resistance of a 128-bit AES engine with random fast voltage dithering
著者 (6件):
Singh Arvind
(Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA)
Kar Monodeep
(Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA)
Mathew Sanu
(Intel Corporation, Hillsboro, OR)
Rajan Anand
(Intel Corporation, Hillsboro, OR)
De Vivek
(Intel Corporation, Hillsboro, OR)
Mukhopadhyay Saibal
(Georgia Institute of Technology, Atlanta, GA)

資料名:
IEEE Conference Proceedings  (IEEE Conference Proceedings)

巻: 2017  号: ESSCIRC  ページ: 51-54  発行年: 2017年 
JST資料番号: W2441A  資料種別: 会議録 (C)
記事区分: 原著論文  発行国: アメリカ合衆国 (USA)  言語: 英語 (EN)
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